E-test是什么意思？

正巧刚才在看A/B test的维基词条（英语），其中提到了一下E-test。

这是一个用来比较两个服从泊松分布随机变量均值是否相同的检验。

楼主若是感兴趣可以阅读一下这篇论文：A more powerful test for comparing two Poisson means

所谓E-test，是wafer test的一种，而且它并不像其他functional wafer testing一样。E-test并不关心芯片的功能情况，而只关心一个工艺下最基本的性能。E-test的结构位于Scribe line里面。

我感觉这是芯片设计相关的内容，和本社区的内容无关吧。

我也没听过。或者题主记错了？

也许是别人笔误了，把F test写成了E test。